?【產(chǎn)品推薦】半導體檢查、晶片檢查LLBKC-BA-1650

特性

●可照射NIR（近紅外波長740nm~1000nm）SWIR（短波紅外波長1000nm～1700nm）區(qū)域的光源BOX

●使用NIR/SWIR光也可以實現(xiàn)在可見光下難以拍攝的同色異物識別和封裝印刷物的透過拍攝

●SWIR光可用于有效利用硅的透過和水的波長吸收特性的檢查

※為了拍攝需要銦·砷化鎵（InGaAs）傳感器相機

?

用途示例

半導體檢查、晶片檢查、電子基板檢查、

太陽能電池檢查、農(nóng)產(chǎn)品檢查、識別分類、監(jiān)視、防偽、工程質(zhì)量管理

發(fā)射波長

740nm

850nm

940nm

1,050納米

1,100納米

1,200納米

1,300納米

1,450納米

1,550納米

1,650納米